Rasterkraftmikroskop

Das Park NX10 Rasterkraftmikroskop von Park Systems ist ein hochpräzises Werkzeug für die Nanoforschung, das exakte Oberflächenabbildung mit vielseitigen Analysefunktionen kombiniert. Es liefert verzerrungsfreie, reproduzierbare Topographien und ermöglicht die Charakterisierung elektrischer, magnetischer, thermischer und mechanischer Eigenschaften im Nanometermaßstab. Dank punktgenauer Abtastung und modernster, rauscharmer Z‑Detektoren erreicht das System feinste seitliche Strukturerkennungen und erfasst selbst kleinste Höhenunterschiede ohne Überschwingen an Kanten.

Mit einer breiten Palette an AFM‑Modi – von Standard‑Topographie über elektrochemische Analysen bis hin zu Messungen in Flüssigkeit – passt sich das Park NX10 flexibel an unterschiedlichste Forschungsfragen an. Es eignet sich für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanoelektronik, Photonik, Biophysik und physikalischen Chemie.