Rasterelektronenmikroskop

Das Quanta 650 FEG Rasterelektronenmikroskop zeichnet sich durch seine hohe Flexibilität in der Probenanalyse aus. Die Feldemissionsquelle (FEG) gewährleistet eine besonders hohe Auflösung und Signalstärke – ideal zur Darstellung feiner Oberflächenstrukturen im Mikro- und Nanometerbereich. Eine besondere Stärke des Systems ist der Environmental-Scanning-Modus (ESEM): der Untersuchungen unter variabler Gasatmosphäre oder bei erhöhtem Feuchtigkeitsgehalt ermöglicht. Dadurch lassen sich empfindliche, nicht leitfähige oder feuchte Materialien ohne aufwändige Beschichtung im naturnahen Zustand analysieren.

Je nach Fragestellung können sowohl ganze Proben als auch definierte Teilbereiche in hoher Detailtreue abgebildet werden. Das Quanta 650 FEG liefert kontrastreiche Aufnahmen und präzise Informationen zur Oberflächenmorphologie – eine zuverlässige Grundlage für Werkstoffcharakterisierung, Qualitätskontrolle oder Schadensanalyse.